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      減震臺:分析天平防震臺

      廣泛應用于梅特勒Mettler、島津Shemadzu、賽多利斯Sartorius、奧豪斯Ohaus等品牌的電子天平。

      名稱:減震臺:分析天平防震臺
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      減震臺:分析天平隔振


      電子天平防震臺.jpg分析天平減震臺.jpg


             Minusk隔振系統可以使分析天平能夠在以前不可能的振動環境中工作,例如在具有重型設備的制造工廠和建筑物高層。


             分析天平對振動特別敏感,因為它們引入g載荷,干擾重力對質量的影響的基本重量測量機制。振動降低了分辨率,防止天平實現其性能。分辨率低至1或0.1微克的高分辨率天平對振動特別敏感,即使使用內置的電子平均技術來補償振動。在某些應用中,即使是一個小數點的減少也會嚴重影響分析天平的有效性。


             低頻振動特別難以衰減,例如由車輛或制造廠的重型設備引起的地面和地面振動。低頻振動也出現在建筑物的上層,特別是由風搖引起的水平振動和來自腳下或附近設備的垂直振動。因此,一些計量實驗室沒有設在其最有用的制造設施中,建筑物上層的一些實驗室也未能使用高分辨率天平發揮其最大功效。


             傳統上,用大理石或其他重材料制成的“平衡桌”解決了振動問題。這些平衡桌通過增加質量和剛度來減少振動,但是在高振動環境中它們的有效性有限。氣浮平臺已被用于有限的成功,因為它們對低頻振動不是有效的,并且有限的典型地面和建筑物振動的衰減。主動或電子力消除系統也已被使用,但這些都是非常昂貴的,并且也具有有限的動態范圍,并且不能處理大振幅振動。


             根據振動頻率,Minusk隔振系統的性能要比氣墊式隔振平臺好10-100倍,甚至比主動式隔振系統的性能好一些,只需花費很少的成本。Minusk通過一個緊湊型平臺提供有效的振動隔離,優勢超過平衡桌。


             Minusk在分析天平在氣流中隔振上有非常豐富的經驗,我們的隔離器通過提供非常低的剛度而工作,并且可以具有低至0.5 Hz的諧振頻率。使它們移動所需的力非常小,因此,將隔振器和分析天平屏蔽,不受氣流影響有時是必要的。增加質量也有幫助。


      至一科技隔振臺.jpgTo One隔震臺.jpg


      To One隔振臺性能曲線圖.jpg

      圖1:Minusk分析天平防震臺性能曲線圖


             至一科技(To One Technology)主營精密設備儀器(光學顯微鏡、原子力顯微鏡AFM、電子顯微鏡、半導體設備、激光設備)減震臺、主動減震臺,(電子顯微鏡、FIB系統、Dual Beam設備、核磁共振儀)主動消磁器......

      顯微鏡主動隔振臺.jpeg輪廓儀/干涉儀主動減震臺.jpg原子力顯微鏡AFM主動防震臺.jpg
      電子顯微鏡主動隔振臺.jpg電子顯微鏡主動減震臺.jpg主動消磁系統.jpeg


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